元素分析

微小部元素分析

マイクロビームアナリシスにより、微小部の元素分析に対応いたします。

  • 電子線マイクロアナライザ(EPMA)、走査電子顕微鏡によるエネルギー分散型X線分析(SEM-EDX)により、数μm以下の微小部の定性分析、定量分析マッピングが可能です。
  • 電界放出型電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)により、100nmの微小部の定量分析が可能です。極低加速電圧走査顕微鏡によるエネルギー分散型X線分析(ULV-SEM-EDX)では、30nmの分析ができます。
  • 透過電子顕微鏡(TEM)に搭載したエネルギー分散型X線分析(EDX)、電子エネルギー損失分光分析(EELS)により、数nm以下の微小部の定性分析、定量分析マッピングが可能です。
  • 収差補正型走査透電子顕微鏡(Cs補正STEM)では、0.1nmの極微小原子スケールでの分析が可能です。
  • 電子エネルギー損失分光分析(EELS)では、元素の化学結合状態の分析が可能です。プラズマ振動やバンド間遷移を用いた状態分析も可能です。

電子線マイクロアナライザ(EPMA)、エネルギー分散型X線分析(EDX)

対応する解析手法 特徴 実例
  • 電子線マイクロアナライザ(EPMA)
  • EPMA、SEM-EDXにより、μmレベルの微小部分析が可能です。
  • FE-EPMAにより、高分解能100nmでの定性・定量・マッピングが行えます。
  • ULV-SEM-EDXにより、高分解能30nmでの定性・定量・マッピングが可能となります。

表面化学状態分析

各種機器を活用して、物質の表面状態の分析をお引き受けいたします。

AES(オージェ電子分光法)、XPS(光電子分光法)、SIMS(二次イオン質量分析法)、GDS(グロー放電発光分光法)などによる表面分析は、1nmの材料極表面の定性分析・定量分析が可能です。

イオンスパッタリングと組み合わせた元素の深さ方向分析が可能です。

X線光電子分光法(XPS)では元素の化学結合状態の分析が可能です。元素によってはAESやEPMAでも状態分析が可能です。

ラマン分光、FT-IR、NMR、質量分析により、有機物の構造解析が可能です

TEM-EDX / EELS

対応する解析手法 特徴 実例
  • TEM-EDX、EELSでは、数nmレベルの微小部分析が可能です。
  • EELSでは、化学結合状態の決定が可能です。
  • Cs補正STEMにより、原子スケールの極微小部X線分光分析(DX)、電子エネルギー損失分光分析(EELS)が可能となります。
  • EPMA、SEM-EDXにより、μmレベルの微小部分析が行えます。
  • FE-EPMAfrは、高分解能(100nm)での定性・定量・マッピングが可能です。
  • ULV-SEM-EDXでは、さらに高分解能(30nm)での定性・定量・マッピングが可能となります。

表面分析

対応する解析手法 特徴 実例
  • オージェ電子分光法(AES)
  • オージェ電子分光法(AES)
  • X線光電子分光法(XPS)
  • 二次イオン質量分析法(SIMS)
  • 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
  • グロー放電発光分光法(GDS)
  • 高周波グロー放電発光分光法(rf-GDS)
  • レーザアブレーションICP質量分析(LA-ICP-MS)
  • X線光電子分光法(XPS)
  • 二次イオン質量分析法(SIMS)
  • 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
  • グロー放電発光分光法(GDS)
  • 高周波グロー放電発光分光法(rf-GDS)

分子結合状態分析

対応する解析手法 特徴 実例
  • フーリエ変換型赤外吸収分光法(FT-IR)
  • 分子振動の化学シフトによる化学状態分析が可能です。(ラマン分光、FT-IR)
  • 有機物の構造解析をお引き受けします。
  • 1μmの微小部分析が可能です。(ラマン分光)
  • 深さ方向分析が可能です。(共焦点ラマン分光)
FT-IR ラマン分光
  • ラマン分光法(RS)

バルクの化学状態分析

各種機器を活用して、バルクとしての物質の状態分析を行います。

バルク平均構造の化学状態分析

対応する解析手法 特徴 実例
  • X線吸収端微細構造(XAFS)
  • 分子結合距離、配意数決定を行います。(XAFS、EXAFS)
  • 化学結合状態の解析が可能です。(XAFS、XANES)
  • 表面吸着元素、熱脱離原子・分子測定を行います。(TDS)
  • 有機物の構造解析が可能です。(NMR、熱分析、有機質量分析)
XAFS
  • 自動車燃焼触媒用貴金属微粒子の測定
  • 燃料電池(FC)用触媒粒子の測定
NMR 熱分析・TDS
  • 金属接触して劣化したポリカーボネート樹脂の調査
  • シュウ酸カリウム塩の熱分解
  • ポリエチレンなど、プラスティック製品の劣化
  • 鉄鋼・非鉄金属中の微量水素分析
  • 金属・ポリマーからの放出微量ガス分析
有機質量分析
  • エックス線吸収端近傍構造(XANES)
  • 広域X線吸収微細構造(EXAFS)
  • 熱分析(TG-DTS、TSC)
  • 昇温熱脱離(TDS)

関連リンク・関連記事

作業の流れ

作業の流れ

このページに関するお問い合わせはこちらから

  • お問い合わせ
  • ご依頼の流れはこちら

JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部