調査・評価・分析の受託会社
JFEテクノリサーチの分析教室
JFEテクノリサーチでは、年４回発行のJFE-TEC Newsを通して、お客様に最新技術などをご紹介しておりますが、その中から特に分析に関する内容を集め、加筆し、「分析教室」として公開しています。
JFEテクノリサーチでは、専門以外の人にも分析方法の測定原理、特徴、用途 などをわかりやすく解説することを目的に、 分析方法に関する記事を定期的に紹介していきます。
次回分析教室「光で量る（3）」は、2011年1月頃公開の予定です。お楽しみに！
分析教室
- 第１０回 光で量る（2）
縦軸を“見る”定量分析と分布分析をご紹介します。 - 第９回 光で量る（1）
可視領域の光を利用した分析方法をご紹介します。 - 第８回 電子で量る（4）
薄膜表面の分析技術としてのAESおよびXPSをご紹介します。 - 第７回 電子で量る（3）
EPMAを用いたミクロな定量分析をご紹介します。 - 第６回 電子で量る（2）
ナノ構造に迫るTEM構造解析技術をご紹介します。 - 第５回 電子で量る（1）
新しいSEM表面観察技術をご紹介します。 - 第４回 イオンで量る（4）
極微量を量るICP質量分析をご紹介します。 - 第３回 イオンで量る（3）
イオンを用いた固体表面の分析をご紹介します。 - 第２回 イオンで量る（2）
有機化合物の構造解析をご紹介します。 - 第１回 イオンで量る（1）
イオンで量るとは？イオンで観るとは？イオンを用いた微細加工をご紹介します。