2008分析展に出展しました

弊社では、広く皆様に技術及びサービスをご案内申し上げるべく、2008分析展へ出展いたしました。
弊社ブースでは、最新の分析・解析技術を中心に特徴ある技術サービスならびにONLY-ONE技術をご紹介させて頂きました。
お忙しい中、ご来場いただきましてありがとうございました。

開催日時	2008年9月3日(水)～9月5日(金)
開催時間	10:00～17:00
会場	幕張メッセ　５ホール
展示ブース	ソリューションコーナー（ブースNo　5A-703） URL:http://www.jaimashow.jp/solution/index.html
公式ホームページ	http://www.jaimashow.jp/

出展内容

1. 新しい表面観察技術
2. 物理解析技術による各種材料評価
3. ICP-MSによる極微量分析技術
4. 有機微量分析技術
5. 金属材料のGreenFACT（可搬式金属分析装置）
6. 赤外線カメラによる応力測定技術
7. 表面処理・腐食防食コンサルティング
8. ダイオキシン類分析