第26回エレクトロテスト・ジャパン出展しました

弊社では、広く皆様に技術及びサービスをご案内申し上げるべく、エレクトロテストジャパンへ出展しました。
本年はブースを拡張し、不良解析/故障解析サービスに加えて、近年増加するカーエレクトロニクス分野での耐食性・耐環境性能向上に向けた腐食・防食に関する技術相談や電池関連の解析サービスなども紹介をさせて頂きました。
お忙しい中、ご来場いただきましてありがとうございました。

開催日時	2009年1月28日(水)～1月30日(金)
開催時間	10:00～18:00
会場	東京ビッグサイト　東３ホール（小間番号　東1-9） 会場案内地図はこちら[PDF/169KB]
公式ホームページ	http://www.electrotest.jp/

出展内容

1. 新しい表面観察技術
2. 物理解析技術による各種材料評価
3. 電子部品の不良解析/故障解析
4. 電池部材の解析事例
5. ICP-MSによる極微量分析技術
6. 赤外線カメラによる応力測定技術
7. 腐食・防食コンサルティング
8. CAE受託解析・計測コンサルティング