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ナノ構造観察・分析・物性評価データ集
ナノ構造観察・分析・物性評価実施例
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GaAs/AlGaAs超格子の原子配列観察
GaAs/AlGaAs超格子の分析
LSIコンタクト部のマッピング
燃料電池用Pt触媒分布のULV-SEM観察
Pt触媒の微細TEM観察
複合酸化物釉薬粒子のULV-SEM-EDX分析
LEDのTEM観察
Cr(35nm/W(12nm))多層薄膜の分析
カーボンナノチューブのSEM観察
カーボンナノチューブのSEM観察2
Pt微粒子の化学状態解析
カーボンナノチューブの状態分析
ナノ構造観察・分析・物性評価用主要技術
原子を可視化する超高分解能TEM
3次元計測走査顕微鏡
デュアルビーム走査電子顕微鏡
電界放出型電子線マイクロアナリシス(FE-EPMA)
電子エネルギー損失分光法(EELS)
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JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部
フリーダイヤル:0120-643-777
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