調査・評価・分析の受託会社
ナノ構造観察･分析･物性評価用主要技術
デュアルビーム走査電子顕微鏡
図 デュアルビームSEM装置
デュアルビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）では、FIB加工しながら、SEM観察できます。
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図 デュアルビームSEM装置
デュアルビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）では、FIB加工しながら、SEM観察できます。
