調査・評価・分析の受託会社
ULV-SEM(極低加速電圧SEM)では、ナノ粒子の表面形状が観察できます。複数の粒子が複合化している粒子では、それぞれを見わけることができます。 SEM像により、100nm程度のカーボン担体粒子の形状が観察でき、BSE像(反射電子像)により、担体表面に付着している10nm程度のPt触媒の分布(Ptは白く光っている)がわかります。
ナノ構造観察・分析・物性評価などのご相談・お問い合わせはこちらから。