微小内部きず内蔵試験片

円盤状、円柱状、球状など理想形状の微小な人工きずを内蔵した世界初の試験片

各種の非破壊試験(特に超音波映像探査)において利用可能な微小内部きずを内蔵した試験片です。きずは外部環境と遮断されていますので、変形したり、腐食して形状が劣化したりすることがありません。

機械加工技術の先端メーカーである(株)昭和製作所殿とのジョイント事業です。

きず内蔵試験片の有用性

  1. 高周波集束超音波を用いた試験(超音波映像探査)における感度キャリブレーションなど、非破壊試験におけるきず検出、感度キャリブレーションに最適です。
  2. 非破壊試験装置や超音波トランスデューサ(プローブ)の性能評価にも適しています。
  3. 研究開発における模擬検出ターゲットなどにも適しています。

標準構成

  • 標準的なきず形状
    • 片端:円形平面きず、他端:ドリル形状
    • 直径:φ20μm、φ30μm、φ50μm、φ100μm
  • 材質
    • ステンレス鋼状
    • 普通鋼
    • 他の材質もご相談に応じます。
  • きずの深さ位置
    • 任意です。ご指定ください。
  • 試験片の寸法
    • ご相談に応じます。

きず形状オプション

φ50μm円形平面きず試験片の断面例


  • 接合面に円形平面きずを入れるのが標準ですが、
    オプションとして以下の形状も選択可能です。
    • 形状O1:両端が円形の平面きず(φ20μm以上)
    • 形状O2:球形きず(直径:φ200μm以上)
  • 他にも各種試験片の設計製作のご相談に応じます。

このページに関するお問い合わせはこちらから

  • お問い合わせ
  • ご依頼の流れはこちら

JFEテクノリサーチ株式会社 営業本部