インプラント摩耗粉の微細粒子解析

インプラント材料の摺動試験後の微細粒子SEM観察結果

摺動試験後のテフロン（左）およびコバルトクロム合金（右）摩耗粉のSEM像

メンブレンフィルターで捕集した摩耗粉を走査電子顕微鏡（SEM）により観察したものです。

テフロンは、数100μm程度の寄線状に凝集するのに対して、コバルトクロム合金では、1μm以下の微細な粒子が多数観察されました。

走査電子顕微鏡による微細粒子の粒子解析

摺動試験後のテフロン（左）およびコバルトクロム合金（右）摩耗粉のSEM像

微細粒子を観察後、粒子を個々に観察・EDX分析を実施し、粒子ひとつひとつの成分と粒度分布を評価することが可能です。