nano tech 2010(国際ナノテクノロジー総合展・技術会議)に出展しました。

弊社では、広く皆様に解析・評価技術及びサービスをご案内申し上げるべく、nanotech2010(国際ナノテクノロジー総合展・技術会議)へ出展しました。
弊社ブースでは、最新の分析・解析技術を中心に特徴ある技術サービスならびにONLY-ONE技術をご紹介いたしました。
　期間中はお忙しい中、ご来場いただきましてありがとうございました。

• シーズ＆ニーズセミナーでも発表しました。

出展内容

1. ナノ材料開発における分析・解析技術
2. 電池関連材料の評価・解析技術
3. 電子部品/製品の故障解析技術
4. 膜厚分布測定装置（フィディカ‐FiDiCa‐）
5. 高精度赤外線カメラによる欠陥検査技術
6. 水に浮く鉄ボール！（中空鉄球‐TECBALL‐）
7. 材料解析技術と利用技術コンサルティング
8. 表面処理材の総合評価技術
9. 材料開発における極微量分析技術

展示会の様子

公式ホームページ

http://www.nanotechexpo.jp/index.html

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JFEテクノリサーチ株式会社　営業本部
フリーダイヤル：0120-643-777