事例集
矩形波印加による絶縁材料・部品の寿命試験 ~実際のスイッチング波形を模擬した電圧印加によるV-t試験~
インバータスイッチングで生じる電圧を模擬したパルス波の印加により、絶縁耐久性を評価いたします。
試験の特長
高性能インバーターの導入に伴い、モータ巻線など絶縁材料・部品に対する絶縁耐久性の要求が高まっています。
絶縁耐久性は、実用電力よりも大きな電力を試料に印加し、絶縁破壊するまでの時間を計測することで長期寿命を予測する、 V-t試験(Voltage-time Testing)により評価します。
当社では、実用の電力波形である急峻なスイッチング波形のパルス波電圧を用いたV-t試験を実施できます。
仕様
正電圧および負電圧のパルス波電圧を連続印加し、絶縁破壊を生じるまでの時間を計測します。
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主要仕様
装置 高電圧パルス電源
ネクスファイ・テクノロジー社試験電圧 0~±5 kV 出力波形 正負交互 矩形波 繰り返し周波数 0.1~30 kHz 立ち上がり速度 150 ns以下 最小パルス幅 300 ns 対応環境 温度 -70~200℃ 湿度 20~98%RH -
試験外観
パルス波印加イメージ
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スイッチング波形の制御
立ち上がり時間やサージ電圧の制御により、実駆動状態に近い電圧波形での試験を実施できます。
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評価事例:2個より線のV-t試験
室温環境下における2個より線(ポリアミドイミド被覆銅線)のV-t試験結果を示します。
印加電圧と破壊時間の関係から、推定寿命を評価します。
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スイッチング波形の事例 -
ポリアミドイミド被覆 2個より線の寿命予測結果
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