物理分析

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結晶構造解析

    • 様々なバルク材料、薄膜・表面処理、微粒子などの結晶構造()を評価します。
      )結晶構造:物質同定、結晶構造決定、結晶配向性・集合組織、残留応力、結晶化度、転位密度など)
    • リートベルト法を用いると、標準試料が準備できない物質の簡易定量も可能です。
    • XRD、XAFSではバルクの平均情報が得られます。
    • EBSP(EBSD)、ラマン分光、電子回折により、微小部の情報が得られます。
    • 大気非暴露での結晶構造解析も可能になりました。
  • X線回折装置
    X線回折装置

バルクの平均構造解析

対応する解析手法 特徴 実例
  • X線回折法(XRD)
  • 物質同定・結晶構造決定が可能です。(XRD)
  • 結晶構造の精密化を行います。(XRDリートベルト解析、XAFS、EXAFS)
  • 結晶配向性・集合組織を測定いたします。(XRD極点図)
  • 残留応力・転位密度の測定が可能です。(XRD)
  • 環境制御、insitu測定、非暴露測定が可能です。
  • 化学結合状態分析をお引き受けします。(XAFS、XANES)
  • X線吸収分光法(XAFS、EXAFS)

微小部結晶構造解析

対応する解析手法 特徴 実例
  • 物質同定・結晶構造決定が可能です。(電子回折、ラマン分光)
  • 微小部分析が可能です。(10nm以上:TEM、1μm以上:ラマン分光)
  • ナノスケールの分析が可能です。(1nm:Cs補正STEM)
  • 微小部(30nm以上)の結晶相分布・方位分布・応力分布の測定が可能です。(EBSP)
  • 応力測定が可能です。(ラマン分光)
TEM
  • TEMによる窒化ほう素の結晶性の解析
ラマン分光
  • 後方散乱電子パターン(EBSP(EBSD))
  • ラマン分光法(RS)

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0120-643-777

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