事例集
100μm以下箔・薄膜のレーザー干渉法による高精度線膨張係数測定
高分子フィルム、金属箔、塗膜等極薄材料の熱膨張率測定を測定することができます。
背景
厚さ100μmを下回る材料の熱膨張率は、温度変化に対する試料形状の変化が微小であり、従来のTMA(熱機械分析)法では測定が困難です。当社で運用するレーザー干渉法(二重光路式マイケルソン型)を用いることで、従来TMAでは測定できなかった極薄材料に対しても、熱膨張率の測定が可能です。
レーザー熱膨張計
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装置外観 -
試験原理
100μm以下薄板材料の測定事例
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極薄材料の熱膨張率測定結果 -

厚さの異なる高分子フィルムに対し、レーザー干渉法とTMA法で熱膨張率を測定した結果、TMA法では厚さ100μmを下回ると結果が不安定化するのに対し、レーザー干渉法では試料厚12~250μmの範囲で安定して測定できています。
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