【JFEテクノリサーチ × ZEISS × Oxford Instruments】3社合同ウェビナー開催！～解析のポイント × 顕微鏡技術 × 革新機器が融合する次世代材料解析セミナー～

見えなかった・見ていなかった表面構造をULV-SEM最新技術と高感度EDXでとらえる！

日頃、SEM-EDXを材料開発や品質管理に対して高度に活用されているユーザー、更に高いパフォーマンスをお求めの研究者の方々を対象にウェビナーを開催します。

講演では、進化を続ける走査電子顕微鏡（SEM）とその開発の歴史、それに最適化された高感度な新型検出器（EDX）に焦点を当てます。そして、Gemini SEMが実現する「sweet spot imaging」という、画像取得と高感度元素分析を両立する手法によって、従来のSEMでは困難だった観察・分析が可能となっていることをご紹介します。また、極低加速電圧下での高分解能観察と高感度の最表面元素分析の例、広域かつ迅速分析ニーズにマッチした最新EDX技術の原理と応用についてご説明します。更に、効率的なデータ取得を実現する、画像処理を含む自動化ソリューションの事例もご紹介し、材料開発から品質管理まで、SEM-EDSの新たな可能性を共に探ります。

本ウェビナーの注目ポイント

• SEM誕生60周年の節目に、次世代技術が切り拓く新たな解析の可能性
• Gemini SEMによる"sweet spot imaging"で、観察と分析の両立を実現
• 最新型EDX検出器による、2D材料や微細構造の高感度・高分解能分析
• 広域・高速な組成分析と、品質管理に直結する応用事例を多数紹介
• 自動化技術による効率的なデータ取得で、現場の課題をスマートに解決

開催概要

開催日時：

2025年10月16日（木） 13：30～16：30

開催形式：

オンライン（ウェビナー）

参加費：

無料（事前登録制）

プログラム（予定）

開会あいさつ

JFEテクノリサーチ 分析解析Div長　八尾泰子

①「Gemini SEMが切り拓く新地平－The power of sweet spot imaging－」

JFEテクノリサーチ 佐藤 馨

②「Geminiカラムで広がる低加速イメージングとEDS分析の世界」

ZEISS 孫 カイイン

③「新型EDS検出器が解き放つ高速･高精度組成分析」

Oxford Instruments 山口 晋

④「高感度EDX検出器'Extreme'による2D材料の究極分析」

JFEテクノリサーチ 中村 貴也

⑤「BEX-Imagingによる実用材料の広域元素分布評価の有用性」

JFEテクノリサーチ 井本 浩史

⑥「最新のSEM自動化技術が実現する効率的なデータ取得事例」

ZEISS 風間 大和

閉会あいさつ

JFEテクノリサーチ　ナノ解析センター長　山田克美

※各社からのメッセージも予定しております（Oxford: サイモン様、ZEISS: Fang Zhou様）

お申し込み方法

参加登録・セミナーの詳細は以下のリンクよりお願いいたします。

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