3社合同ウェビナー開催！～Sweet Spot Imaging × 最新SEM解析が切り拓く次世代材料評価セミナー～

見えなかった・測れなかった材料特性を解き明かす！

材料開発の高度化に伴い、微細構造、元素分布、結晶方位、力学特性を統合的に評価するニーズが高まっています。

本ウェビナーでは、JFEテクノリサーチ、ZEISS、Oxford Instrumentsの3社が、それぞれの最新技術と実践的な解析事例をご紹介します。

SEMの性能を最大限に引き出す「Sweet Spot Imaging」をはじめ、高速・広域元素分析、ライブパターンマッチングによる高精度EBSD解析、SEM内その場力学試験、さらに極低加速電圧（ULV）領域における最新イメージング技術など、材料研究・開発および品質保証を支える最先端の解析ソリューションを解説します。

本ウェビナーの注目ポイント

• Sweet Spot Imagingによる高精細SEM観察と分析の両立
• 高速・広域元素分析システム「Unity」による不均一性・微量元素の可視化
• ライブパターンマッチングを活用した次世代EBSD解析
• In-Situ Nano IndenterによるSEM内その場力学評価
• ZEISS最新SEMによるNanoVP・新型ULVイメージング技術
• 電池材料、燃料電池部材、金属材料、電子材料など幅広い材料評価事例をご紹介

このような方におすすめ

• 材料開発・研究に携わる研究者・技術者
• 電池、半導体、金属材料、電子材料分野の開発担当者
• SEM、EDS、EBSDの活用レベル向上を目指す方
• 分析業務の効率化やデータ品質向上に課題をお持ちの方
• 品質保証、不良解析、故障解析業務に携わる方

※競合企業関係者のご参加はご遠慮いただく場合があります。

開催概要

開催日時：

2026年12月2日（水） 13:30～16:30

開催形式：

オンライン（ウェビナー）

参加費：

無料（事前登録制）

視聴方法︓

Zoom（申込みを受け付けた方には、Webセミナーの案内を、3日前と前日にお送りいたします。）

申込方法

下記URLより事前にご登録ください

https://jfe-tec.web-tools.biz/Webinarj/

プログラム（予定）

① Microscopy for Industry - Sweet Spot Imaging -

JFEテクノリサーチ 佐藤 馨
SEMの観察性能と分析性能を最大限に活かす「Sweet Spot Imaging」を紹介。高度な材料解析を支える最新の観察・分析ソリューションについて解説します。

② 多彩なイメージングと高精度EDSを可能にするZEISS低真空モード NanoVP

カールツァイス　小田 武秀
低真空環境でも高分解能観察と高精度EDS分析を実現するNanoVP技術と、その活用事例を紹介します。

③ 極低加速電圧イメージングの可能性を拡げる新型ULV検出器

カールツァイス　風間 大和
試料最表面の情報取得を可能にする最新ULVイメージング技術と、その材料評価への応用事例を紹介します。

④ Unityを用いた高速・広域元素分析の最前線 ～BEX-Imagingによる不均一性・欠陥・微量元素の可視化～

JFEテクノリサーチ　井本 浩史
電池材料や燃料電池部材、軽金属材料を対象とした解析事例を通じて、高速・広域元素分析の有効性を紹介します。

⑤ ライブパターンマッチングが結晶方位解析を変える

オックスフォード・インストゥルメンツ　森田 博文
EBSD解析の新たな可能性を切り拓くライブパターンマッチング技術について解説します。

⑥ In situ Nano Indenterの世界 ～EDS・EBSDとの相関解析～

オックスフォード・インストゥルメンツ　五十嵐 誠
ナノインデンテーションと組成・結晶方位解析を組み合わせた複合評価による材料特性解析事例を紹介します。