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オンライン技術講座 リニューアル!

平素よりJFEテクノリサーチのホームぺージをご利用いただき誠にありがとうございます。

この度、"オンライン技術講座"を"オンデマンドセミナー"として、リニューアルしましたので、お知らせいたします。今回のリニューアルでは、皆様にとってより見やすく、動画が探しやすい構成やデザインに改善いたしました。

リニューアルに伴い、URLが変更になりましたのでブラウザの「ブックマーク」「お気に入り」などに登録されている場合は、新しいURLへの登録変更をお願いします。 これからも、引き続きご利用の皆様のお役に立つ動画のご提供や、内容の充実に努めてまいります。 今後ともご愛顧賜りますよう宜しくお願い申し上げます。

ZEISS Academy Online 「The Impact of Advanced SEM on Materials Characterisation」
(低速走査電子顕微鏡の先進的な使い方)

今日のSEM(走査電子顕微鏡)は、複数の検出器(複数の二次電子検出器、複数の反射電子検出器)を搭載することで、従来のSEMで観察していた表面の凸凹の観察画像を超え、様々な情報(物質種、結晶情報など)を反映した観察を可能にしています。

SEMの最大活用には、材料に合わせた適切な観察条件("sweet spot")を選択することが必須です。このセミナーでは、SEMから豊かな情報を得るため、像形成の原理を説明しその理解に基づき実際に観察した応用例を紹介しています。

※本セミナーは、2020年に弊社の佐藤馨フェローが3回にわたり講師を務めました"ZEISS Academy ONLINE"のWEB動画(Webinar)です。

低速走査電子顕微鏡の先進的な使い方
講師:JFEテクノリサーチ フェロー 佐藤 馨

講師:JFEテクノリサーチ フェロー 佐藤 馨

1989年 英ケンブリッジ大学大学院博士課程修了、Ph.D。
JFEスチール(株)の分析・物性研究部長、主席研究員を経て、2016年から当社フェロー。
詳しいプロフィール、受賞歴、代表論文などはこちらから

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当社では、上記以外にもオンライン技術講座を多数ご用意しております。視聴には会員登録(無料)が必要となります。当社営業担当にお申しつけいただくか、下記お問い合わせフォームよりお申込みください。
なお、当社は法人様向けの技術サービス会社の為、個人のお客様のご登録はお断りする場合がございます。また、同業他社様もご登録いただけません。
予めご了承ください。

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