振動試験と振動解析技術

関連メニュー

振動試験中のひずみゲージ測定技術

モビリティパーツの動的応力を計測することにより、製品の品質向上に貢献いたします。

ひずみ測定のシステム構成

振動試験中の動的応力をひずみゲージ法を用いて計測いたします。

    • ひずみゲージ

      • 短軸
      • 2軸
      • 3軸
    • 動ひずみ計

      • 測定範囲: 500,000×10-6ひずみ
      • 応答周波数範囲: DC~5kHz(偏差+1dB、-3dB)
      • サンプリング周波数:最大200kHz
      • 測定点数:64点/台(Max.512点)
    • ↓ USB
  • パソコン

    • サンプリング中のモニタグラフ表示、スペクトルグラフの作図
    • CSVファイル形式などに変換

ひずみゲージ法による振動試験中の動的応力測定例(ECU筐体)

  • 供試品 エンジンコントロールユニット(ECU)
    加振条件 周波数52.5Hz、加速度10G
    ひずみゲージ 3軸ゲージ(ゲージ長1mm)
    サンプリング周波数 10kHz

当社では、ひずみゲージ法のほかに、高速度カメラと3次元画像相関法(3D-DIC)によるひずみ分布解析、高感度赤外線カメラによる応力分布解析も承っております。

また、温度環境下での正弦波、ランダム波、衝撃波など様々な振動試験も承っておりますのでお気軽にお問い合わせください。

作業の流れ

このページに関する
お問い合わせはこちらから

JFEテクノリサーチ株式会社 営業総括部
0120-643-777

0120-643-777

月~金:9:00~17:30(祝祭日を除く)

?
  • TEL
  • MAIL
  • ご依頼の流れ
  • 質問