事例集（技術分野）
- STEMによる固体電解質の結晶粒子の可視化および結晶面積率の評価
- EBSD-パターンマッチング法による局所の微小歪分布解析
- 統計処理を可能とする触媒ナノ粒子の多粒子組成・形態自動測定
- SEM-EDXによる大面積元素マップ
- STEM-EDX・EELSを用いた正極活物質周辺における硫化物系固体電解質の充放電劣化解析
- Cryo-FIB-SEM法と昇華処理を組み合わせた電極スラリーの観察
- 凍結乾燥と染色処理を施した電極スラリーのCMC分布評価
- 鋳鉄鋳物部品の総合品質評価
- ハイブリッドナノフォーカスX線CTによる微細構造解析
- 異種材料界面剥離につながる熱ひずみの解析 ～デバイスの長寿命化に向かって～
- 異種材料界面制御につながる材料物性の評価～デバイスの長寿命化に向かって～
- JFEテクノリサーチの環境耐久評価試験（マテリアル・モビリティ評価センター）
- 広域断面SEM観察によるジエン系ゴム含有樹脂の劣化状況の可視化
- ペロブスカイト太陽電池材料の層構造解析
- 走査型透過X線顕微鏡による固体電解質の状態解析
- ULV-SEMによる水素脆化破面の微細構造観察
- 全固体電池用正極活物質表面コート層の被覆率評価
- μプローブSTEMを使用したナノ結晶材料のキャラクタリゼーション
- 繊維状物質の表面形状と内部構造の観察および分散状態評価
- 表面処理欠陥の高感度・広域EDX分析
- ULV-SEMによる二相ステンレス鋼の相分離精密解析
- LM-DPC-STEM法による試料中磁場の観察
- 燃料電池／水電解用触媒層の高分解能観察
- LIB電極のSEM内3点曲げとDICによるひずみ分布評価
- 粒子表面コーティングの高感度EDX分析
- 透過電子顕微鏡法による硫化物系固体電解質の局所結晶性評価
- クライオFIB-SEMを用いたグリスの断面観察
- 硫化物系固体電解質の結晶構造評価 -大気非暴露環境下での評価-
- マイクロカプセルを用いた液体サンプルのTEM観察
- ウィンドウレスEDXによる超軟X線分析
- 硫化水素曝露試験後の電池構成材料表面状態観察
- 実装された電子部品はんだ接合部の構造解析
- 高温油浸漬による絶縁皮膜の表面・特性変化
- ULV-SEMによるNi基合金組織の高精細観察
- 機械学習の適応によるULV-SEM像からの析出物高度解析
- STEMトモグラフィーによる触媒の３D構造パラメータ評価
- 鉄鋼材料中の硬質相の可視化技術
- 表面処理材評価技術
- 全固体電池セル断面の高分解能SEM-EDX分析
- 中京地区のナノ材料評価ラボ 極低加速電圧走査電子顕微鏡導入
- 高温油浸漬前後の絶縁皮膜の表面・断面解析
- 金属極表層酸化物の可視化
- SiCパワーデバイスの加熱SEM＋DICによるひずみ分布計測
- 火力発電プラント用高Cr鋼中の微細析出物解析技術
- 高気密性大気非暴露環境下でのX線回折測定
- リートベルト法による回折データの精密解析
- 微小部X線分析装置による元素の広域定性・定量マッピング
- DIC法を用いたSEM内3点曲げによるひずみ分布評価
- 低加速STEMによるソフトマテリアルの高コントラスト観察
- FIBピックアップ薄膜試料を用いた、in-situ加熱STEM分析
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