当社関係者が「ZEISS INNOVATION SUMMIT 2026」で基調講演

JFEテクノリサーチで長年にわたり分析・評価技術の発展に携わってきた佐藤馨氏が、ZEISS INNOVATION SUMMIT 2026において基調講演を行います。

佐藤氏は、産業分野における顕微鏡技術に関する講演

"Microscopy for Industry - Sweet Spot Imaging"

を予定しています。

ZEISS INNOVATION SUMMIT 2026年11月4日－6日　ドイツベルリンにて開催

https://www.zeiss.com/metrology/en/explore/events/2026/zeiss-innovation-summit.html

ZEISS INNOVATION SUMMITは、AI、自動化、電動化、スマートマニュファクチャリングなどをテーマに、産業界・研究機関のリーダーや研究者が集う国際イベントです。

当社は今後も分析・評価技術を通じて、産業界および研究開発の発展に貢献してまいります。