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2026年04月15日

【オックスフォード・インストゥルメンツ社とのジョイントウェビナー】 BEX技術を用いたSEMにおける先端EDS元素分析

~材料科学および電池材料への応用~

概要

本ウェビナーでは、EDS(エネルギー分散型X線分光)の最新技術動向と、革新的なUnity/BEX検出器を用いたSEM元素分析手法をご紹介します。

BEX技術は、

  • 高感度分析
  • 影の出ない検出器配置
  • X線信号と反射電子信号の同期取得

といった特長を有しており、従来のEDS分析を超える高効率な元素分析を実現します。
本講演では、材料研究・評価に直結する実践的な応用事例を解説します。本ウェビナーは、英国の分析機器メーカーOxford Instruments社主催によるもので、JFEテクノリサーチは協業パートナーとして、高機能材料および電池正極活物質への応用事例を2件発表します。

このウェビナーで学べること

  • SEMにおける BEX/EDS技術の最新開発動向
  • 機能材料評価へのBEX/EDSの適用事例
  • 電池用活物質コーティングの高感度元素分析手法

対象者

  • SEM・EDSを用いた材料分析に携わる方
  • 材料科学、金属材料、電池材料分野の研究・開発・品質評価担当者
  • 従来のEDS分析を超える高感度・高効率な分析手法に関心のある方
EDX像
正極活物質粒子表面の不均一コーティングの可視化例

開催概要

開催日時:
2026年4月21日(水)17:00~18:00
※同内容の別時間帯セッション(23:00~)あり
開催形式:
オンライン(ウェビナー)
使用言語:
英語
参加費:
無料
申込方法:
Oxford Instruments社ウェブサイトよりお申し込みください。
ウェビナー申込ページ(Oxford Instruments社)

プログラム

  1. Introduction of BEX and new capabilities in SEM
    Haithem(Oxford Instruments)
  2. BEX/EDS analysis of functional materials
    Imoto(JFE Techno-Research)
  3. BEX/EDS analysis of LiNbO₃ coating on battery cathode active materials
    Nagoshi(JFE Techno-Research)
  4. Live Q&A session

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JFEテクノリサーチ株式会社 営業総括部
0120-643-777

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