調査・評価・分析の受託会社
JFE-TEC Newsバックナンバー
JFE-TEC Newsバックナンバー
No.27 (2011年4月)
掲載内容
- 電池LAB（2）
～Liイオン二次電池における充放電挙動を探る～ - 微細構造を明らかにする物理解析（10）
～極低加速電圧SEMによるナノ微粒子の相別粒子解析～ - 高性能赤外線カメラ測定技術（2）
～MEMS応力観察装置～ - CO2排出削減コンサルティング
～当社のCO2排出削減コンサルティングの特徴～ - 高速変形試験（4）
～高速変形時の加工発熱分布の計測技術～ - 航空宇宙品質マネジメントシステムの紹介
～リスクマネジメントの応用技術～
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No.26 (2011年1月)
掲載内容
- 電池LAB（1）
～Liイオン2次電池(LIB)材料の大気非暴露下での分析技術～ - 微細構造を明らかにする物理解析（9）
～極低加速電圧走査電子顕微鏡による食品表面の微細構造観～ - 高性能赤外線カメラ測定技術（1）
～迅速疲労測定装置～ - スポット溶接解析
～電流伝熱と変形の連成解～ - 高速変形試験（3）
～構造体の高速変形試験における速度分布、ひずみ分布計測～ - IT技術利用による業務生産性向上
～クラウド・サービス～
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No.25 (2010年10月)
掲載内容
- 低真空ＳＥＭ−ＥＢＳＰによるセラミック材料の結晶方位解析
- 有機微量分析技術としてのLC/MS
～LC/MS/MSを用いた分析事例～ - 微細構造を明らかにする物理解析（8）
～表面微小部を分析するAES～ - ゴルフクラブ設計を支援する解析ソリューション
～素材と形状からCt値と打球音を予測する技術～ - 高速変形試験（2）
～樹脂材料の高速引張試験～ - コンサルティング業務に関する最近のトピックス（2）
～フードチェーンにおける食品安全確保のための
国際規格（HACCP、 ISO22000）の紹介～
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No24 (2010年7月)
掲載内容
- 溶接変形の解析
「溶接変形解析支援システム Welding .Sim」 - 定量の極限を目指す化学分析
～希土類粉末状合金の水素分析～ - 微細構造を明らかにする物理解析（7）
～不活性雰囲気下で測定したXPSによる
電池材料の化学結合状態～ - 資産除去債務としての環境債務について
～資産除去債務に関わる環境債務での計上支援～ - 高速変形試験（1）
～高速引張試験時のひずみ分布計測～ - コンサルティング業務に関する最近のトピックス（1）
～地球温暖化と排出量取引～
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No.23 (2010年4月)
掲載内容
- 膜厚の面分布を高解像度で
迅速に測定できる『FiDiCa』 - 蛍光X線分光分析
～迅速定量分析としての応用～ - 微細構造を明らかにする物理解析（6）
～FE-EPMAによる微小部高分解能分析～ - 数値解析による電気部品の品質評価
～圧着コネクタの応力解析事例～ - 高精度赤外線カメラの応用（3）
～疲労限度の迅速推定～ - 知的財産に関する最近のトピックス（5）
～より良い特許を早く権利化できる方法～
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No.22 (2010年1月)
掲載内容
- 水に浮く中空鉄ボール（TEC-BALL）で衝撃エネルギーを吸収
- 金属材料の迅速オンサイト成分分析（グリーンファクト）
～小さなボルトから大型構造物まで～ - 微細構造を明らかにする物理解析（5）
～3次元構造を調べるFIB-SEM～ - 極微小粒子状物質の測定分析技術
～PM2.5、ナノマテリアル粒子測定技術～ - 高精度赤外線カメラの応用（2）
～疲労損傷部位の予測～ - 知的財産に関する最近のトピックス（4）
～米国特許庁が産業界から長官を迎える～
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No.21 (2009年10月)
掲載内容
- ナノ材料の解析・評価の新展開
- 定量の極限を目指す化学分析（4）
～溶液中のイオン分析のためのクロマトグラフ法～ - 微細構造を明らかにする物理解析（4）
～表面構造を可視化するSEM技術（2）～ - 環境・エネルギー（8）
～土壌・地下水のオンサイト分析～ - 高精度赤外線カメラの応用（1）
～応力測定の原理とロックイン機能～ - 知的財産に関する最近のトピックス（3）
～進歩性の判断基準～
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No.20 (2009年7月)
掲載内容
- 極低加速電圧SEMによるトランジスタのpn接合観察
- 定量の極限を目指す化学分析（3）
～微量分析としての原子吸光分析～ - 微細構造を明らかにする物理解析（3）
～表面構造を可視化するSEM技術（1）～ - 環境・エネルギー（7）
～ダイオキシン類分析の品質管理～ - 表面処理製品の耐久寿命評価（4）
～無機被覆製品の耐久寿命評価～ - 知的財産に関する最近のトピックス（2）
～中国の特許審査～
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No.19 (2009年4月)
掲載内容
- 多層断面構造溶接ワイヤの特徴と今後の展開
- 定量の極限を目指す化学分析（2）
～微量分析としてのICP（その2）LA-ICP-MS～ - 微細構造を明らかにする物理解析（2）
～ナノ構造にせまるTEM観察技術-2 TEM-EELS分析～ - 環境・エネルギー（6）
～環境プロセスの提案（排水処理）（2）～ - 表面処理製品の耐久寿命評価（3）
～塗装金属製品の耐久寿命評価～ - 知的財産に関する最近のトピックス（1）
～特許の世界のワークシェアリング～
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No.18 (2009年1月)
掲載内容
- 金属材料のオンサイト分析（出張分析）
－グリーンファクト®－ - 定量の極限を目指す化学分析（1）
- 微細構造を明らかにする物理解析（1）
- 環境・エネルギー（5）
- 表面処理製品の耐久寿命評価（2）
- 誘導加熱後表面焼入れの解析
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No.17 (2008年10月)
掲載内容
- ナノの世界を拓くULV-SEM-EDX元素マッピング
- CAEにおける有限要素法による数値解析事例（2）
- 電子材料（3）
- 環境・エネルギー（4）
- 表面処理製品の耐久寿命評価（1）
- 特許に係わる最近の動向（4）
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No.16 (2008年7月)
掲載内容
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No.15 (2008年4月)
掲載内容
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No.14 (2008年1月)
掲載内容
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No.13 (2007年10月)
掲載内容
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No.12 (2007年7月)
掲載内容
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No.11 (2007年4月)
掲載内容
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No.10 (2007年1月)
掲載内容
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No.9 (2006年10月)
掲載内容
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No.8 (2006年7月)
掲載内容
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No.7 (2006年4月)
掲載内容
- 光ファイバー温度計による溶接部温度測定の高精度化
- 見えない光で観る（2）
- イオンで量る（2）
- 環境調査トピックス（2）
- 接合技術の最近のトピックス（2）
- 特許調査が企業活動の明暗を決する時代を
迎えて（2）
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No.6 (2006年1月)
掲載内容
- ナノオーダーの元素分析を実現した極低加速SEM-EDS
- 見えない光で観る（1）
- イオンで量る（1）
- 環境調査トピックス（1）
- 接合技術の最近のトピックス（1）
- 特許調査が企業活動の明暗を決する時代を
迎えて（1）
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No.5 (2005年10月)
掲載内容
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No.4 (2005年7月)
掲載内容
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No.3 (2005年4月)
掲載内容
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No.2 (2005年1月)
掲載内容
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創刊号 (2004年10月)
